Mitutoyo三豐物鏡套件D2 378-932

 鏡頭套件
鏡頭套件D1 378-931 BD Plan Apo 10×、20×、50×、100× 4件套
鏡頭套件D2 378-932 BD Plan Apo 2×、5×、10×、SL20× 4件套

 上述規格欄中的分辨力和物鏡單體焦深是根據基準波長(λ＝0.55μm)計算得出的值。
※1 觀察反射率較低的檢測對象時，建議搭配使用1/4波長板B和偏光裝置。注)工作距離會縮短4mm。

 BD Plan Apo
BD Plan Apo 2× ※1 378-831-7 0.055 34.0 100 5.0 91 12 2.4×3.2 340
BD Plan Apo 5× 378-832-7 0.14 34.0 40 2.0 14 4.8 0.96×1.28 350
BD Plan Apo 7.5× 378-830-7 0.21 34.0 26.67 1.3 6.2 3.6 0.64×0.85 350
BD Plan Apo 10× 378-833-7 0.28 34.0 20 1.0 3.5 2.4 0.48×0.64 350
BD Plan Apo 20× 378-834-7 0.42 20.0 10 0.7 1.6 1.2 0.24×0.32 400
BD Plan Apo 50× 378-835-7 0.55 13.0 4 0.5 0.9 0.48 0.10×0.13 440
BD Plan Apo 100× 378-836-7 0.70 6.0 2 0.4 0.6 0.24 0.05×0.06 460
BD Plan Apo HR
BD Plan Apo HR 50× 378-845-7 0.75 5.2 4 0.4 0.49 0.48 0.10×0.13 530
BD Plan Apo HR 100× 378-846-7 0.90 1.3 2 0.3 0.34 0.24 0.05×0.06 545
鏡頭套件
鏡頭套件D1 378-931 BD Plan Apo 10×、20×、50×、100× 4件套
鏡頭套件D2 378-932 BD Plan Apo 2×、5×、10×、SL20× 4件套
鏡頭套件D3 378-933 BD Plan Apo 5×、10×、20×、50× 4件套
●上述規格欄中的分辨力和物鏡單體焦深是根據基準波長(λ＝0.55μm)計算得出的值。
※1 觀察反射率較低的檢測對象時，建議搭配使用1/4波長板B和偏光裝置。注)工作距離會縮短4mm。

 Mitutoyo三豐顯微鏡單元
日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)
用于半導體、電子、液晶相關等產品的生產
品質管理系統、實驗研究裝置使用的光學系統
外觀檢查系統的嵌入式光學單元
微生物等運動物體的觀察 等
可安裝數碼相機，通過外部顯示器進行觀察和拍攝。
可實現橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。
與簡易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★金屬、樹脂、印刷面等表面觀察拍攝

 通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機卡口的
組合，能夠對同一位置以不同倍率同時觀
察。
(低倍率側：2/3型、高倍率側：1/2型等)

憑借長動作距離設計的物鏡，實現優異的操作性。
與定位器、探針臺等組合。
通過與激光加工裝置組合，還可支持不良分析→部分修正無縫銜接的系統。
此外，還提供支持隔著玻璃的、真空內的外觀檢查的系統

視頻顯微鏡單元
VMU 
大視場視頻顯微鏡單元
WIDE VMU 

精密顯微鏡單元
FS70 
明視場用物鏡
(長工作距離
)
M Plan Apo/M Plan Apo HR 
明視場用物鏡
(超長工作距離
)
M Plan Apo SL 
明視場用物鏡
(玻璃厚度校正)
G Plan Apo
明暗視場物鏡
(長工作距離)
BD Plan Apo/BD Plan Apo HR
明暗視場物鏡
(超長工作距離
Mitutoyo三豐物鏡套件D2 378-932